芯片测试方法、装置、服务器、存储介质和程序产品

本申请涉及一种芯片测试方法、装置、服务器、存储介质和程序产品。所述方法包括：通过可视化界面接收测试请求；所述测试请求中包括待测试芯片的型号信息和需求信息；基于所述型号信息、所述需求信息和预设知识库，确定对所述待测试芯片进行测试的提示词；所述预设知识库中至少包括不同类型芯片进行测试时调用的应用程序接口信息；基于所述提示词和大模型，对所述待测试芯片进行测试，得到测试结果。采用本方法能够提高芯片测试的效率。