一种芯片供电模式的智能检测电路及其检测方法

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一种芯片供电模式的智能检测电路及其检测方法
申请号:CN202511005114
申请日期:2025-07-21
公开号:CN120870706A
公开日期:2025-10-31
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种芯片供电模式的智能检测电路及其检测方法,其中,该电路包括:LDO整体模块、计时模块及供电模式判断模块;LDO整体模块,输出目标电压及电源信号VCC;计时模块,输出计时信号;供电模式判断模块,检测计时信号及目标信号的上升沿的先后顺序确定供电模式,在计时信号的上升沿先到时,确定芯片的供电模式为外部VOUT供电模式,LDO功率级单元禁用;在目标信号的上升沿先到时,确定芯片的供电模式为自供电模式并输出ModeDone信号,LDO整体模块继续工作,根据ModeDone信号调整目标电压为电路正常工作的目标电压。本方案能够实现芯片供电模式的智能检测与判断,具有减少功耗,提高系统效率的特点。
技术关键词
智能检测电路 计时模块 模式 信号 电压 电阻 功率级 芯片 脉冲 电源 开关组 高电位 节点 关系 输入端 功耗 输出端
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