基于图像处理的晶体表面缺陷检测方法及系统

本发明涉及晶体图像检测技术领域，具体涉及一种基于图像处理的晶体表面缺陷检测方法及系统。本发明首先在晶体训练图像中，综合所有晶体分块图像的缺陷综合形态度量，获取晶体训练图像的整体缺陷斑点程度；根据每个晶体训练图像的整体缺陷斑点程度，对晶体训练图像进行图像增强，获取增强后的晶体训练图像；利用训练后的神经网络模型，对晶体待测图像进行缺陷检测。本发明通过充分考虑到晶体缺陷程度，对晶体训练图像进行合理增强，对神经网络模型进行有效训练，提高训练后的神经网络模型识别晶体表面缺陷的准确性。