基于DDIC芯片的数据采集方法、装置及测试设备

本申请适用于半导体测试技术领域，提供了一种基于DDIC芯片的数据采集方法、装置及测试设备，所述数据采集方法通过接收测试图案并控制DDIC芯片输出对应的灰阶电压信号，实现对芯片在全灰阶范围内的响应能力进行全面测试；其次利用包含阻抗变换、单端转差分转换、可编程增益放大、滤波以及模数转换等功能单元构成的目标采集链路，有效提升了信号驱动能力、抗干扰能力，同时降低了高频噪声与非线性失真，从而保障了采样数据的基础质量；在此基础上，基于FPGA单元对采样数据执行采样优化处理，提高了数据稳定性。该方案通过信号链路的高精度传输与提升了DDIC芯片的数据采集精度，进而满足了高精度DDIC芯片测试的技术需求。