一种校准方法、待校准设备、校准装置及校准系统

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正文
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一种校准方法、待校准设备、校准装置及校准系统
申请号:CN202511015726
申请日期:2025-07-23
公开号:CN120522625B
公开日期:2025-11-07
类型:发明专利
摘要
本实施例提供了一种校准方法、待校准设备、校准装置及校准系统,应用于电子测量技术领域。该校准方法包括在接收到校准指令时,根据校准指令确定待校准项集合;获取待校准项集合中各个待校准项的依赖校准项集,依赖校准集为影响待校准项的校准结果的一个或多个依赖校准项的集合;基于各个待校准项的依赖校准项集,对各个待校准项进行校准。本实施例可提高测量仪器在校准过程中校准的校准效率。
技术关键词
校准设备 校准方法 校准装置 队列 校准系统 信号源 校准算法 指令 存储计算机程序 参数 关系 存储器 处理器 模块 数据 决策 电子
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