一种车载芯片抗干扰能力的测试方法、系统、介质及设备

本申请提供了一种车载芯片抗干扰能力的测试方法、系统、介质及设备，通过将干扰信号叠加到标准信号中以得到测试激励信号，将测试激励信号输入待测试车载芯片以得到抗干扰结果，并且基于抗干扰结果反馈调整干扰信号的控制参数以生成新的干扰信号，通过不断调整干扰信号的控制参数并输入待测试车载芯片进行测试，以实现多种干扰信号的生成并测试出待测试车载芯片的失效边界，不仅可以提高车载芯片的测试效果，而且可以准确测试得到车载芯片的失效边界条件，以助力于车载芯片的性能提升。