一种基于宇生μ子像图的高精度超声成像识别方法

本发明公开了一种基于宇生μ子像图的高精度超声成像识别方法，步骤为：S1、生成宇生μ子成像特征图；S2、构建并训练核心缺陷检测网络，输出对宇生μ子成像特征图的缺陷区域进行识别的缺陷概率图；S3、对成像物体的缺陷区域进行超声成像，并进行彩色映射重建得到超声彩色图像；S4、分别获取宇生μ子成像特征图的非缺陷区域掩膜和超声彩色图像的缺陷区域掩膜，并经图像融合得到融合图像；该方法适用于大范围高精度的无损成像检测，其在利用宇生μ子可以做到大范围、无剂量透射成像的基础上，对缺陷区域进行有效识别并与缺陷区域的超声成像相融合，实现对局部缺陷位置的高精度成像，且兼具无损成像和完全无辐射的优势。