大面阵CMOS传感器列级固定模式噪声校正方法

本发明公开了大面阵CMOS传感器列级固定模式噪声校正方法，属于CMOS图像传感器技术领域。本发明包括采集原始图像，在均匀光照下采集大面阵CMOS传感器的原始图像，计算图像上下部分每列均值比，拟合校正曲线法，根据各列均值比的变化趋势，拟合一条平滑曲线，利用拟合曲线对图像下半部分逐列校正。本发明利用比值拟合曲线校正大面阵CMOS列级噪声，使得在购买大面阵CMOS芯片时，不需要筛选芯片，可以校正所有由于斜坡误差引起的列级噪声，大大节省了生产成本，通过该方法校正后，CMOS的列级固定噪声得以修正，整个面阵的像素在同一光照下响应一致，通过拟合曲线平滑处理，避免相邻列亮度突变，大大提高了图像质量。