芯片测试设备

本申请提供了一种芯片测试设备，包括：外壳、至少一个被测芯片插座、负载板、数字测量板卡和散热块；外壳的相对两目标侧板的顶部分别设有第一支撑结构；两个第一支撑结构的底部分别设有向内延伸的支撑板，散热块的顶部两侧分别设有向外延伸的安装板，两个安装板一一对应搭接在两个第一支撑结构的支撑板上；数字测量板卡的两侧分别搭接在两个安装板上；负载板搭接在第一支撑结构的顶部、且与数字测量板卡电连接，被测芯片插座安装于负载板的顶部，被测芯片插座用于放置至少一个被测芯片。通过第一支撑结构的设计，使得被测芯片、负载板、数字测量板卡以及散热块形成堆叠结构，这样结构更加紧凑，既能保证芯片测试性能，又能节省整机占用空间。