一种电致发光器件的坏点监测方法及系统

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一种电致发光器件的坏点监测方法及系统
申请号:CN202511030343
申请日期:2025-07-25
公开号:CN120847579A
公开日期:2025-10-28
类型:发明专利
摘要
本发明涉及显示器件监测技术领域,公开了一种电致发光器件的坏点监测方法及系统,该方法包括:将电致发光器件划分为多个待监测区域,根据每个待监测区域的历史数据集合设定监测特征;按照监测特征获取每个待监测区域的实时监测数据,生成每个实时监测数据的实时修正影响系数,并对实时监测数据进行修正,得到实时修正监测数据;根据同一待监测区域的多个实时修正监测数据构建若干实时监测数据序列,对每个实时监测数据序列进行分析,根据分析结果计算序列系数;根据序列系数设定对应待监测区域的区域状态,若区域状态为存在坏点状态,确定坏点特征并生成运维策略,提高坏点监测精度以及监测效率。
技术关键词
实时监测数据 电致发光器件 监测策略 监测方法 序列 异常数据 运维策略 历史监测数据 监测点 因子 神经网络训练 日志 标记 参数 指标 显示器件 监测技术 监测系统 低延迟
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