一种准确测定氧化镓单晶晶轴取向的方法

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一种准确测定氧化镓单晶晶轴取向的方法
申请号:CN202511038281
申请日期:2025-07-28
公开号:CN120927803A
公开日期:2025-11-11
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种准确测定氧化镓单晶晶轴取向的方法,涉及材料科学技术领域,包括,通过量子纠缠传感器网络采集氧化镓单晶的声学原始数据;对声学原始数据进行压缩重构处理,构建声速各向异性张量,并生成晶格振动特征图谱;根据晶格振动特征图谱构建酶促反应动力学模型,定义酶促微分方程,并计算稳态晶向角浓度值;将稳态晶向角浓度值映射至晶圆空间坐标,通过求解扩散方程建立稳态晶向角浓度场分布矩阵,将稳态晶向角浓度场分布矩阵转换为晶轴取向偏差热力图;本发明通过量子纠缠态的超导传感器网络,提升空间分辨率和时间分辨率,克服了现有物理表征方法对样品表面平整度和洁净度的依赖性。
技术关键词
氧化镓单晶 超导量子比特 振动特征 取向 量子态 稳态 热力图 传感器节点 晶圆切割机 样品表面平整度 切割机旋转轴 偏差 图谱 算术平均值 钛宝石激光器 超导传感器 数值积分方法 矩阵 方程 匹配追踪算法
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