基于多种表征技术的晶体表面裂纹综合分析方法及系统

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基于多种表征技术的晶体表面裂纹综合分析方法及系统
申请号:CN202511042930
申请日期:2025-07-28
公开号:CN120894327A
公开日期:2025-11-04
类型:发明专利
摘要
本申请涉及晶体检测技术领域,具体为基于多种表征技术的晶体表面裂纹综合分析方法及系统,方法包括:利用激光共聚焦显微技术获取晶体表面裂纹的三维形貌图,并通过拉曼光谱技术测量晶体表面应力;采用曲率跟踪和边缘检测算法提取裂纹主路径,结合贝塞尔曲线拟合裂纹几何形态,计算裂纹曲率、走向及分支特性,完成裂纹路径几何建模;利用图结构神经网络预测裂纹萌生区域,划分晶体表面风险区域;结合相场演化模型与机器学习方法,预测裂纹扩张趋势;融合风险区域与扩张趋势,生成裂纹风险联合热度图。本申请能够精准识别裂纹萌生区域与扩张趋势,为晶体切割工艺优化及裂纹控制提供科学依据。
技术关键词
裂纹 综合分析方法 表征技术 边缘检测算法 拉曼光谱技术 注意力神经网络 构建机器学习模型 显微技术 径向基函数插值方法 相场模型 三次样条插值算法 材料损伤状态 晶体检测技术 sigmoid函数 应力场 综合风险指标
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