基于SPI多芯片级联的智能拉弧检测控制系统及方法

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基于SPI多芯片级联的智能拉弧检测控制系统及方法
申请号:CN202511043317
申请日期:2025-07-28
公开号:CN120779844A
公开日期:2025-10-14
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于SPI多芯片级联的智能拉弧检测控制系统,通过SPI接口进行级联多颗芯片,只需要将一颗作为主控的芯片带flash存储固件和上位机通讯即可,可以节省N‑1(N为总共级联的芯片个数)颗flash硬件,节约成本。并且,通过一个拉弧主机芯片,通过SPI接口,控制其他N‑1个拉弧从机芯片,搜集拉弧从机芯片的拉弧数据进行汇总,统一和上位机进行通讯,拉弧芯片里面跑拉弧检测的算法,一旦有拉弧结果,通过SPI快速上报给主控进行关断操作,比uart总线速度大大提升(uart速率通常在9600~115200波特率,而SPI总线的速率可以达到40000000~12000000的速率)。
技术关键词
检测控制系统 芯片 SPI总线 FLASH存储器 级联 主机 固件 菊花链拓扑结构 逆变器 SPI接口 通讯接口 压缩编码格式 数据完整性校验 流水线方式 轮询方式 关断 决策 校验模块 波特率
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