失效芯片的筛选方法

本发明提供了一种失效芯片的筛选方法，包括：提供待测试的芯片，芯片包括浮栅、ONO层和控制栅依次位于部分栅氧化层的表面，浮栅、ONO层和控制栅内形成有字线栅，字线栅通过第一侧墙与浮栅的侧壁以及与ONO层的侧壁隔开，字线栅还通过第一侧墙以及第二侧墙分别与控制栅的侧壁隔开，字线栅连接形成字线，控制栅连接形成控制线，一个字线栅和一侧的一个控制栅形成一个存储单元；对所有存储单元均进行写00操作；对控制线和同一存储单元的字线分别施加第一电压和第二电压，压差为17.3V～25V，第一电压大于0，第二电压小于0；对存储单元进行擦除操作和读11操作，如果读取的值非11，则芯片失效。