缺陷检测方法、装置、存储介质以及电子设备

本申请涉及一种缺陷检测方法、装置、存储介质以及电子设备。该方法包括：在获取到待检测图像的情况下，获取待检测图像的中间层向量；根据中间层向量与历史图像的历史处理策略，确定待检测图像的处理策略，其中，处理策略包括了用于处理待检测图像的模型和模型的处理区域；使用处理策略对应的模型处理待检测图像的处理区域，得到特征图；根据特征图，识别待检测图像的图像缺陷。本申请解决了缺陷识别准确度低的技术问题。