碳纳米管激光抛光质量实时监测系统、方法、电子设备及介质

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碳纳米管激光抛光质量实时监测系统、方法、电子设备及介质
申请号:CN202511051736
申请日期:2025-07-29
公开号:CN120680137B
公开日期:2025-12-23
类型:发明专利
摘要
本说明书实施例提供了一种基于光学相干断层扫描OCT和二次离子质谱仪SIMS的碳纳米管激光抛光质量实时监测系统、方法、电子设备及介质,其中,系统包括:超快激光抛光装置,根据激光参数对碳纳米管薄膜进行高精度激光抛光;OCT光学监测系统,实时监测超快激光抛光装置在抛光过程中碳纳米管薄膜的表面形貌,得到OCT数据;SIMS化学成分分析模块,检测抛光前后碳纳米管薄膜的表面元素组成及杂质含量,得到SIMS数据;智能反馈控制系统,基于OCT数据和SIMS数据,利用机器学习算法优化超快激光抛光装置的激光参数;数据处理与存储模块,存储并分析OCT数据和SIMS数据,生成表面质量评估报告,并根据智能反馈控制系统的反馈远程调整激光参数。
技术关键词
碳纳米管薄膜 激光抛光装置 光学监测系统 反馈控制系统 激光脉冲宽度 实时监测系统 实时监测方法 机器学习算法 二次离子质谱仪 光学相干断层扫描 分析模块 数据 激光焦点位置 粗糙度 存储模块 分辨率 报告
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