基于大数据分析的电子元器件质量预测方法

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基于大数据分析的电子元器件质量预测方法
申请号:CN202511054659
申请日期:2025-07-30
公开号:CN120975301A
公开日期:2025-11-18
类型:发明专利
摘要
本公开实施例提供了基于大数据分析的电子元器件质量预测方法,包括:对供应链中各批次电子元器件的历史质量数据与检测记录进行采集与归一化处理;基于所述归一化处理后的数据构建质量特征向量并进行聚类分析以识别潜在风险批次;根据所述聚类分析结果中的风险等级动态调整入库抽检策略参数;将调整后的抽检策略应用至当前批次的入库检测流程以降低质量异常漏检风险。通过本公开实施例的方案,能够解决如何根据供应链中批次差异数据对入库抽检策略进行调控以解决质量异常漏检风险上升的问题。
技术关键词
电子元器件 策略 Kmeans算法 拉格朗日乘数法 参数 数据 模糊决策 决策树模型 漏检概率 深度学习模型 系统模块 动态更新 指标 聚类 高风险 高频率 温湿度 因子
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