气压计的堵塞检测方法

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气压计的堵塞检测方法
申请号:CN202511054985
申请日期:2025-07-29
公开号:CN120800656A
公开日期:2025-10-17
类型:发明专利
摘要
本公开实施例公开了一种气压计的堵塞检测方法,所述气压计的堵塞检测方法包括获取气压计,所述气压计具有加热部;开启所述加热部至加热温度,并采集预定时间内所述气压计的输出数据;关闭所述加热部,计算P1=P Max‑P Min,其中P Max为预定时间内所述气压计输出数据的最大值,P Min为预定时间内所述气压计输出数据的最小值;重复前述采集计算步骤至少两次,并得到P2、P3……Pn,n为正整数;若P1、P2、P3……Pn中的一半以上大于第一预定阈值,则判断所述气压计气孔堵塞。以此,能够利用气压计内置加热部主动施加温度激励,通过分析气压响应波动即可完成检测,全程无需物理接触气孔或者中断气压计正常工作。
技术关键词
堵塞检测方法 气压计 ASIC芯片 加热 采样率 MEMS芯片 数据 物理
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