一种电子器件检测方法及系统

本发明涉及LED芯片检测技术领域，具体涉及一种电子器件检测方法及系统，方法包括：获取彩色图像和同轴光图像；基于图像结构元素进行形态学操作预估芯片可能的位置坐标；通过绘制单像素宽度的行列直线提取芯片中心点坐标；基于芯片外接矩形的倾斜角度进行旋转校正；利用归一化互相关算法对芯片进行精确定位；生成标准模板图像并计算其平均灰度值用于匹配计算；针对不同缺陷类型将芯片图像划分为多个区域并进行特征增强处理，以识别电极针孔缺失、导电孔暴露等表面缺陷。本发明可以解决LED芯片在排列混乱、亮度不均和缺陷低对比度条件下难以准确定位与识别的问题。