一种氧化物中杂质含量的分析方法及系统

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一种氧化物中杂质含量的分析方法及系统
申请号:CN202511062774
申请日期:2025-07-31
公开号:CN120913712A
公开日期:2025-11-07
类型:发明专利
摘要
本发明涉及氧化物杂质分析领域,具体为一种氧化物中杂质含量的分析方法及系统;所述方法包括以下步骤:设置氧化物杂质样本,通过氧化物杂质样本构建参考杂质数据库,对参考杂质数据库进行分析,获得参考杂质数据集;获取待测氧化物样本的待测谱图序列,对待测谱图序列进行分析,获得待测谱图子序列,并构建待测谱图事件链;对待测谱图事件链进行分析,获得去噪谱图事件链;结合参考杂质数据集对去噪谱图事件链进行分析,获得待测氧化物样本的匹配杂质数据集以及未匹配杂质数据集;对匹配杂质数据集以及未匹配杂质数据集进行分析,获得待测氧化物样本的杂质分析结果。本发明能提升杂质识别的精度。
技术关键词
样本 量子点荧光探针 分析方法 序列特征 谱图特征 动态时间规整技术 检测平台 数据分析模块 荧光技术 深度学习模型 数据模块 管理中心 波长 匹配模块 背景噪声
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