失效芯片的筛选方法

本发明提供了一种芯片失效测试方法，包括：提供待测试的芯片，芯片包括多个呈多行和多列形式存在的存储单元，每行存储单元的字线均连通，每行存储单元的源线均连通，其中，每个存储单元包括源线、浮栅和字线，浮栅位于源线的两侧并通过浮栅侧墙隔开，字线位于浮栅与源线相对的一侧，字线与浮栅通过隧穿氧化层隔开；对所有存储单元均写入“00”；对字线施加‑5V～0V的电压，对源线施加10V～15V的电压；对所有存储单元进行读“00”操作；若任一存储单元读取的值非“00”，则判断芯片失效。本发明提前筛选出了数据保持能力较低的存储单元，防止了浮栅异常的存储单元流入下一测试单元，并且提高了芯片质量。