摘要
本发明涉及高速连接器技术领域,公开了高速数据连接器双层PIN针结构优化设计方法。该方法利用三维扫描设备获取PIN针初始结构参数,通过逆向工程算法重建三维模型并提取关键几何特征。其次,采用时域反射法进行信号传输路径模拟,采集信号完整性数据并识别潜在信号失真区域,同时结合近场扫描技术和矩量法计算相邻PIN针间的电磁耦合度。然后,基于上述特征参数构建多目标优化模型,运用多目标遗传算法求解得到满足信号完整性和电磁兼容性要求的结构参数调整方案。进一步通过机械强度仿真评估插拔应力分布,确保结构可靠性。最终综合优化结果和仿真数据确定最优结构参数。
技术关键词
双层PIN针结构
高速数据连接器
优化设计方法
信号失真
重建三维模型
三维扫描设备
时域反射法
灰色关联分析法
传输路径
材料屈服强度
参数
扫描技术
高速连接器技术
全方位数据采集
互感系数
遗传算法
电磁兼容性测试
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