一种高准确性的芯片外观检测装置

本发明涉及芯片外观检测技术领域，具体为一种高准确性的芯片外观检测装置，包括观测架，所述观测架的顶端固定连接有收纳架，所述观测架的底端固定连接有检测架，所述收纳架的顶端设置有检测组件，所述检测架的内部设置有控料组件，检测组件包括控气座，所述收纳架的表面中心设置有控气座，所述控气座的顶端设置有液压杆，所述液压杆的底端固定连接有下压座。本发明通过设置的检测组件，可以实现对被检测芯片材料全方位的表面充分扫描检测操作，在实际的使用过程中，通过控制面板适配的控制启动控气座侧面四角的四组控气泵机，使得置料罩底端万向节接座在缓冲罩的万向滚球处进行万向调节操作，并且缓冲罩内部通过一端的环形簧件。