一种SFG光谱的高级拟合分析方法与系统

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一种SFG光谱的高级拟合分析方法与系统
申请号:CN202511077303
申请日期:2025-08-01
公开号:CN120950880A
公开日期:2025-11-14
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种SFG光谱的高级拟合分析方法与系统。方法包括:对原始SFG光谱数据预处理后,根据预定义的峰组和目标峰的标称中心,在指定搜索容差范围内,结合数据局部最大强度,自动生成高斯峰的初始幅度和中心位置;使用多高斯函数模型和非线性最小二乘优化算法,对光谱数据进行拟合,获得各高斯峰的拟合参数;对拟合成功后的高斯峰参数进行精炼合并;自动识别并计算特定关键特征峰的强度;生成详细的SFG光谱拟合图和拟合参数报告。本发明实现SFG光谱的精确、稳定、自动化解卷积与定量分析,为材料科学、表面化学等领域提供客观、可重复、有深层物理化学意义的数据。
技术关键词
拟合分析方法 数据 报告 非线性 参数 强度 处理器 分析系统 生成方法 计算机设备 算法 可读存储介质 程序 间距 存储器 动态 模块 信号 标记
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