芯片测试方法、电子设备、存储介质及程序产品

本发明公开了一种芯片测试方法、电子设备、存储介质及程序产品，涉及计算机技术领域。该方法包括：确定目标图像中丝印区域的丝印图像，并得到丝印图像的识别结果；根据识别结果确定目标芯片的测试条件，并基于测试条件得到各测试值；基于各测试值在预设坐标系中生成各坐标点，确定坐标点相同的参考芯片的目标数量，并确定目标比例；基于目标比例确定目标向量，并确定目标向量与预设的基准向量之间的差异度；在确定差异度大于预设差异度阈值的情况下，生成偏移事件报告，并根据偏移事件报告下发与目标芯片对应的生产设备的设备巡检任务及工艺参数复核任务。本发明的方案，可以快速且准确地对芯片进行测试，并对测试数据进行深入分析。