一种基于协议转换的MCU烧录测试向量生成方法

本发明公开了一种基于协议转换的MCU烧录测试向量生成方法，涉及集成电路测试领域。本发明通过深度解析表征目标芯片Flash编程算法的标准FLM文件以及包含用户固件的Intel HEX文件，结合对SWD协议规则的严格遵循，自动化地生成符合目标ATE平台要求的标准化PAT测试向量脚本。该流程实现了从固件文件到可执行测试向量的无缝转换，其内在机制涵盖了参数配置与文件导入、关键信息解析与标准化、SWD协议操作序列生成以及最终PAT向量脚本合成输出等协同处理阶段，有效消除了传统方案中的人工干预与繁琐的格式转换环节。