一种芯片可替换性测试方法、装置、电子设备及存储介质

本申请提供了一种芯片可替换性测试方法、装置、电子设备及存储介质，属于半导体技术领域，构建芯片的可替换性测试指标体系，并根据所述可替换性测试指标体系对目标芯片进行测试，得到测试结果数据，进而确定每一评估二级指标的可替换性要求满足程度，且根据预设的评分对照表查找与所述可替换性要求满足程度相对应的得分范围；根据对各个所述评估域设定的权重和所述得分范围确定所述目标芯片的可替换性总评分，并且根据所述可替换性总评分确定所述目标芯片的可替换性等级。从而通过构建全面的芯片可替换性测试指标体系，实现自动化测试流程，支持自定义权重，提升测试效率与精准性，降低系统替换风险，满足不同场景需求。