缺陷区域的定位方法、装置、存储介质和终端

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缺陷区域的定位方法、装置、存储介质和终端
申请号:CN202511099800
申请日期:2025-08-06
公开号:CN120976157A
公开日期:2025-11-18
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种缺陷区域的定位方法、装置、存储介质和终端,该定位方法包括以下步骤:从提示词中提取出区域关键字子句与缺陷关键字子句,将待处理图像分割为多个局部区域图像;生成每个局部区域图像均进行以下操作:生成局部区域图像与区域关键字子句之间的第一相似度,筛选出第一大于第一相似度阈值的区域作为后续处理区域,然后在后续处理区域中生成局部区域图像与缺陷关键字子句之间的第二相似度,再利用第一、第二相似度构建偏置系数对第一、第二相似度加权结合组成综合相似度,通过判断综合相似度是否大于设定阈值来判定是否为缺陷区域。该定位方法能够结构化解析提示词语义,精准定位待检测区域并定位出对应的缺陷区域。
技术关键词
关键字 定位方法 图像分割 关键词 矩阵 PCA算法 文本 语义 图像编码器 图像获取模块 裁剪模块 像素 处理器 注意力机制 标记 终端 程序 词语
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