一种半导体结构的制备方法及堆叠结构

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一种半导体结构的制备方法及堆叠结构
申请号:CN202511114704
申请日期:2025-08-08
公开号:CN120977950A
公开日期:2025-11-18
类型:发明专利
摘要
本公开实施例提供了一种半导体结构的制备方法及堆叠结构,其中,所述制备方法包括:提供第一晶圆,第一晶圆包括衬底,衬底包括相对设置的第一表面和第二表面,芯片区和切割区位于第一表面上;将芯片区远离衬底一侧的表面与载片键合;对衬底的第二表面执行第一减薄工艺;自衬底的第二表面执行第一分割工艺,以形成多个第一分割槽。沿第一分割槽所在的位置执行第二分割工艺,以形成第二分割槽,第二分割槽贯穿相邻芯片区之间的切割区,第一晶圆基于第一分割槽和第二分割槽分离为多个芯片;其中,芯片位于衬底上的部分的边缘相对于衬底的边缘向外偏移,且第二分割槽的侧壁与平行于衬底平面的方向的夹角大于预设值;去除载片。
技术关键词
衬底 堆叠结构 激光切割工艺 掩膜图案 半导体结构 芯片结构 晶圆结构
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