一种基于特征传播半监督网络的缺陷检测方法

本发明提供了一种基于特征传播半监督网络的缺陷检测方法，包括：S1、获取样本图像，构建语义分割标签数据集和无标签数据集；S2、构建DualSFDNet模型；S3、基于半监督学习优化策略，利用语义分割标签数据集和无标签数据集对DualSFDNet模型进行优化训练；S4、实时采集待检测芯片的高清表面图像，获取待检测芯片主体区域的三张随机裁剪图像，并输入训练好的DualSFDNet模型中，获得三张缺陷语义分割掩码；S5、根据所述三张缺陷语义分割掩码，将待检测芯片的缺陷信息量化并可视化，得到缺陷检测结果。本发明有效解决了不显著缺陷难以检测、人工标注效率低以及模块化训练易引入噪音等问题。