静电放电测试结构、测试方法以及芯片

本发明提供一种静电放电测试结构、测试方法以及芯片，所述测试结构包括：静电放电保护器件与被保护器件，所述静电放电保护器件的正极与所述被保护器件的正极共同连接第二测试垫，所述静电放电保护器件的负极连接第一测试垫，所述被保护器件的负极连接第三测试垫。本发明测试垫进行了耦合，缩减了静电放电测试结构的排版布局面积，同时，采用第一测试垫、第二测试垫与第三测试垫对静电放电测试结构进行TLP特性测试，能够精确实测出静电放电保护器件有效窗口内的有效脉冲电流，不过度依赖于测试硬件，弥补了业内测试的不足，同时不受机台等的寄生内阻的影响，不需要推算。