基于点云与高光谱成像的苹果边缘早期损伤检测方法

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基于点云与高光谱成像的苹果边缘早期损伤检测方法
申请号:CN202511157495
申请日期:2025-08-19
公开号:CN120726621B
公开日期:2025-11-07
类型:发明专利
摘要
本发明公开了基于点云与高光谱成像的苹果边缘早期损伤检测方法,属于苹果边缘早期损伤检测领域,包括以下步骤:S1、同步采集待检测苹果的高光谱图像与三维点云数据;S2、基于预处理后的多源异构数据,实现高光谱图像与三维点云数据的像素级对齐,并计算表面法向量与有效入射角;S3、基于引入可变指数的多项式核函数的Lambert反射模型,进行自适应光谱校正;S4、利用随机森林算法对校正后的光谱数据进行分类。采用上述基于点云与高光谱成像的苹果边缘早期损伤检测方法,通过融合三维点云与高光谱成像数据,结合空间配准、角度校正及随机森林算法进行多源异构数据协同分析,显著提升了苹果边缘早期损伤检测的精度与可靠性。
技术关键词
三维点云数据 损伤检测方法 多项式核函数 优化随机森林参数 推扫式高光谱成像 多源异构数据 图像 协方差矩阵 深度相机 光谱校正 邻域 特征值 分界面位置 光源 OTSU算法 光谱成像系统 旋转变换矩阵
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