一种基于全聚焦成像的数据校准方法及相关设备

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一种基于全聚焦成像的数据校准方法及相关设备
申请号:CN202511159764
申请日期:2025-08-19
公开号:CN121027336A
公开日期:2025-11-28
类型:发明专利
摘要
本申请公开一种基于全聚焦成像的数据校准方法及相关设备,方法包括:根据预设全聚焦设置对超声阵列探头进行全矩阵采集,确定全矩阵采集数据;根据预设全聚焦设置对全矩阵采集数据进行数据重建,确定全聚焦成像区域信号幅值数据;根据预设全聚焦参数设置和预设参考反射体仿真模拟参考反射体在全聚焦成像区域的幅值信号,构建修正数据矩阵;根据采集的参考反射体信号、修正数据矩阵修正全聚焦成像区域信号幅值数据,确定全聚焦成像数据矩阵,根据修正校准的全聚焦成像数据矩阵进行成像。采用全矩阵采集和数据重建,根据全聚焦参数设置和预设声学仿真模型对参考反射体仿真计算,能提高校准精度,简化校准流程。本申请可广泛应用于超声检测技术领域。
技术关键词
反射体 矩阵 成像 阵列探头 数据校准方法 仿真信号 仿真模型 幅值 超声检测技术 处理器 可读存储介质 计算机程序产品 参数 电子设备 模块
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沪ICP备2023015588号