电路板的评估方法、电子设备、存储介质和程序产品

本发明提供了一种电路板的评估方法、电子设备、存储介质和程序产品，可以应用于深度学习和光学检测技术领域。该评估方法包括：对电路板的多模态信息进行融合、对齐处理，得到电路板的融合特征和指示电路板工艺状态的状态信息，其中，多模态信息包括电路板的图像、点云信息和工艺信息，工艺信息包括电路板中目标点位处的多个工艺参数；基于融合特征和状态信息确定电路板的缺陷特征；根据缺陷特征和用于缺陷特征的评估条件信息，得到电路板的缺陷评估结果，其中，评估条件信息由状态信息确定。