存储芯片整合测试系统

本发明公开了一种存储芯片整合测试系统，包括测试容器、测试载板、电性测试模块和多个功能测试模块，所述测试容器设置有温度可调的测试腔体；所述测试载板放置于所述测试腔体内，用于插置待测的存储芯片；所述功能测试载板连接至测试载板，用于对插置于测试载板上的存储芯片进行多种功能性测试；所述电性测试模块连接至测试载板，用于对插置于测试载板上的存储芯片进行电性测试。本发明的存储芯片整合测试系统，能够在不同温度下对存储芯片进行测试，以模拟存储芯片的真实使用环境，且模拟温度范围较大，提高了测试的真实性以及参考价值。