一种芯片测试设备的调试方法、装置及电子设备

本申请公开了一种芯片测试设备的调试方法、装置及电子设备，该方法应用于芯片测试设备，在采用芯片测试设备对样品芯片进行测试的过程中，获取样品芯片中每两个引脚之间的第一电气参数，样品芯片包括至少两个引脚，根据第一电气参数，确定每个引脚的第二电气参数，根据第二电气参数，对芯片测试设备进行参数调试，相对于依次对芯片测试设备中每个引脚进行调试，通过获取每两个引脚之间的电气参数来对芯片测试设备进行参数调试，能够减少依次对芯片测试设备中每个引脚进行测试的步骤，从而提高了对芯片测试设备进行调试的效率。