摘要
本发明公开了一种芯片管理方法、系统及存储介质,属于芯片管理技术领域。方法包括以下步骤:S1:将芯片和晶圆的管理数据录入数据库;S2:将测试数据与芯片的ID进行绑定并标注测试条件然后导入数据库;S3:在参数界面选择参数组,并筛选测试频率,然后动态堆叠生成管理曲线图。本发明对数据进行了有效管理,摈弃了传统的、笨重的、复杂的本地存储数据文件的方式,进一步防止文件的丢失。方便用户对数据进行查找和提取,能够快速检索所需数据,节省查找时间,提升了工作效率。对研发人员来说,曲线图的生成和下载功能,为研发人员提供了更好的数据分析平台,节省了数据处理步骤。
技术关键词
芯片管理方法
数据录入数据库
计算机可执行指令
芯片管理技术
解析算法
电学特性参数
曲线
增删改查功能
数据库管理系统
数据库表结构
数据分析平台
语句
分布式架构
动态
可读存储介质
数据可视化
格式
系统为您推荐了相关专利信息
估计方法
能量聚集
峰值算法
计算机可执行指令
可读存储介质
数据采集方法
周期
压缩算法
计算机可执行指令
管道
等值建模方法
风电场智能
双馈风机
风电场动态
引力搜索算法
风险预测模型
风险预警方法
指数
时间段
行业特征