一种激光芯片端面反射率监控方法

本发明为一种激光芯片端面反射率监控方法，涉及计算机处理技术领域，所述方法包括如下步骤：S01、获取待监控芯片端面，并输入至预设的微观区域划分模型，以得到关于所述激光芯片端面的多个微观区域，并记录每个微观区域的预设反射率标准值；S02、利用高精度反射率测量设备，获取每个所述微观区域的实际反射率测量值；S03、根据每个所述微观区域的实际反射率测量值与预设反射率标准值的对比，确定每个所述微观区域的反射率偏差情况，将包含反射率偏差情况的各微观区域信息整合为多区域反射率分布信息。该发明将网格化反射率空间分析与多源数据融合技术结合，实现了对芯片贴片覆盖范围的微米级精度监控。