一种便捷测试SD响应时间的电路及方法

本发明涉及光通信技术领域，具体地说，涉及一种便捷测试SD响应时间的电路及方法；在测试SD响应时间时直接借助OLT芯片的采样保持功能，在实际量产测试时BEN信号和RX IN信号的延时校准步骤只需要进行一次后记录下来就固定，更低成本快捷地完成SD响应时间测试。