一种基于动态电容测试的LED芯片评测方法

本发明提供一种基于动态电容测试的LED芯片评测方法，属于LED器件检测技术领域。本发明通过测量和分析不同偏置和频率下的结电容，作为筛选和评判LED芯片的参数，实现对LED器件动态响应能力的质量诊断，为LED芯片的生产和质量控制提供可靠的依据。本发明操作简便高效、准确性高、成本低、实用性强，能够快速完成LED芯片的检测，设备通用程度高，检测成本较低，有利于大规模应用。