芯片测试连接器的剩余寿命预测方法、装置及存储介质

本申请提供的芯片测试连接器的剩余寿命预测方法、装置及存储介质，首先采集第一时间段内芯片测试连接器所在回路的电流数据，基于电流数据确定电流上升速率、电流凹陷特征以及电流噪声特征；将电流上升速率、电流凹陷特征以及电流噪声特征输入预先训练的预测模型，获得预测模型输出的芯片测试连接器的剩余寿命。本申请根据动态电流提取电流上升速率、电流凹陷特征及电流噪声特征等多维度特征，能够实时监测影响芯片测试连接器寿命的特征，且综合考虑了芯片测试连接器在工作过程中的触点疲劳、电弧风险、连接表面赃污的影响，提高了预测准确性，进而减少由于芯片测试连接器性能下降导致的各种问题。