用于CoolMOS器件的动态损耗检测方法及系统

本发明提供了用于CoolMOS器件的动态损耗检测方法及系统，涉及半导体器件技术领域，包括：根据搭载设备ID检索历史使用场景，并通过聚合得到多个标准测试场景；进行关联性扰动组合，得到中间态测试场景阵列；在进行待检测搭载设备中CoolMOS器件的响应延迟测试后，根据测试结果局域激活中间态测试场景阵列，在待检测搭载设备进行CoolMOS器件的动态损耗测试，输出中间态多元损耗轨迹；进行时空演化建模，输出动态损耗云图。本发明解决了现有技术多依赖于固定测试方法和固定测试场景，不能全面反映CoolMOS器件在实际工作条件下的损耗特性，导致损耗检测结果的真实性、全面性不足的技术问题。