纳米颗粒光学性质的确定方法

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纳米颗粒光学性质的确定方法
申请号:CN202511356807
申请日期:2025-09-22
公开号:CN120911232A
公开日期:2025-11-07
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种纳米颗粒光学性质的确定方法,属于纳米颗粒表征技术领域。公开了纳米颗粒光学性质的确定方法,包括:获取待测纳米颗粒的二维投影图像;对二维投影图像进行三维重构,得到待测纳米颗粒的三维模型;对三维模型进行电磁仿真实验,得到仿真结果;根据仿真结果,确定待测纳米颗粒的光学性质信息。申请实现了对单个纳米颗粒真实光学性质的确定。
技术关键词
纳米颗粒 三维模型 电磁仿真 三维重构算法 滤波反投影算法 迭代重建技术 期望最大化算法 网格算法 表征技术 热点 球面 坐标系 电场 监视器 图像 参数 手性
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