一种面向半导体制造的气态分子污染物在线监测系统

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一种面向半导体制造的气态分子污染物在线监测系统
申请号:CN202511396183
申请日期:2025-09-28
公开号:CN120891156A
公开日期:2025-11-04
类型:发明专利
摘要
本发明属于半导体制造管理技术领域,具体地说是一种面向半导体制造的气态分子污染物在线监测系统,包括小尺寸溯源动态历史影响分析模块、多源实时监测预警模块、前瞻性预警分析模块、主动式控制检测模块和智能化反馈界面;本发明的小尺寸溯源动态历史影响分析模块基于混合模型,结合历史数据和实时数据,能够预测污染物未来影响趋势并划分等级,从而便于企业提前制定应对策略,合理安排生产计划,降低污染物对产品良率的影响,前瞻性预警分析模块,能够模拟污染物扩散路径,定位高风险工位,并通过贝叶斯网络分析污染物来源与传播路径,输出根因概率排序列表,从而便于为污染物的防控和治理提供依据,能够快速准确地采取针对性措施。
技术关键词
在线监测系统 主动式控制 分析模块 半导体加工过程 反馈界面 分子 预警模块 设备运行数据 网络分析 高风险 DQN算法 建议系统 小尺寸 实时数据 洁净室 条件依赖关系 预警模型 有限元分析法 设备状态参数
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