一种芯片测试装置和测试系统

本申请提供了一种芯片测试装置和测试系统，可以减少测试人员对降压电源芯片测试的时间成本及人力成本，并且该方案可以提升测试结果的有效性及真实性。装置应用于对降压电源芯片测试，降压电源芯片用于为目标服务器提供服务；装置包括：印刷电路板PCB，其中，PCB包括第一区域和第二区域；第一区域中设置有多个连接点，多个连接点与降压电源芯片的多个待测管脚一一对应，每个连接点用于与对应的待测管脚连接；第二区域包括至少一个输入点和多个测试点，输入点用于接收输入信号，多个测试点中至少一个测试点用于输出测试信号；其中，PCB的物理参数与目标服务器中用于连接降压电源芯片的印刷电路板的物理参数相同。