用于集成电路测试的PCB板及集成电路测试装置

本实用新型涉及集成电路测试技术领域，公开了一种用于集成电路测试的PCB板及集成电路测试装置，集成电路包括天目芯片和与天目芯片连接的外围器件，PCB板包括PCB板本体，PCB板本体的第一表面用以设置与天目芯片连接的第一测试座，PCB板本体的第二表面用以设置外围器件，第一测试座与外围器件通过设置在PCB板本体第一表面和第二表面的走线连接，外围器件所在区域与第一测试座所在区域相对设置。PCB板将第一测试座设置在PCB板本体的第一表面，与天目芯片连接的外围器件设置在PCB板本体的第二表面，并将外围器件所在区域与第一测试座所在区域相对设置，可极大地减少由于第一测试座封装过大而导致的PCB板体积变大，PCB走线过长的问题，有效防止测试结果失真。