天线测试系统及方法

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天线测试系统及方法
申请号:CN202410702703
申请日期:2024-06-03
公开号:CN118282537B
公开日期:2024-09-10
类型:发明专利
摘要
本发明实施例提供一种天线测试系统及方法,属于天线测试技术领域。所述系统包括:信号采集单元包括初始化模块、控制模块和测试架;初始化模块用于系统启动后基于待测天线的接入参数执行测试参数初始化;所述测试架用于接入待测天线,并执行待测天线对应的测试流程;所述控制模块用于基于待测天线的参数确定待执行的测试流程;所述信号处理单元用于对所述检测信号执行数学吸收反射抑制,并基于抑制后的检测信号生成待测天线的测试结果报告。本发明方案实现了天线接入自动感知,并基于接入天线自适应执行参数初始化,提高了天线测试的测试效率。且本发明方案解决了小尺寸天线测试过程中容易因为测量伪影导致的测量精度不高的问题。
技术关键词
待测天线 天线测试系统 天线测试方法 信号采集单元 信号处理单元 参数 反射器 采样率 实时位置 芯片工作频率 天线测试技术 控制模块 数学 电磁场环境 滤波 柱面近场 多轴机械臂
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