一种芯片测试用多通道并行测试装置

本发明公开了一种芯片测试用多通道并行测试装置，涉及芯片测试技术领域，包括支架，所述支架顶部设置有托盘，所述支架中部固定连接有隔板，所述托盘底部设置有用于防止芯片移动的定位机构，所述托盘侧面设置有用于清理芯片表面杂质的吹除机构，通过设置有定位机构，在容纳槽底部形成负压，从而将芯片吸附在容纳槽内部，通过控制容纳槽底部的压力差，从而可以提供较强的吸附力，将芯片牢固地固定在托盘上，这样可以避免芯片在测试过程中的移动或晃动，保持测试的准确性和一致性，同时，将芯片吸附在容纳槽内部可以避免使用针脚或其他插件，从而减少了对芯片引脚或连接器的损伤风险。