内存检测方法及其检测系统

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内存检测方法及其检测系统
申请号:CN202410704700
申请日期:2024-06-03
公开号:CN118280428B
公开日期:2024-09-20
类型:发明专利
摘要
一种内存检测方法及其检测系统,内存检测方法包括:提供第一内存及第二内存;拆卸第一内存上的一个第一记忆芯片;将第二内存上的一个第二记忆芯片装设在测试位置;将第一内存设置在测试装置中驱动第一内存,使第一内存的第一记忆芯片产生第一信号,并使第一内存上的所述第二记忆芯片产生第二信号;和比较第一信号和第二信号,并产生触发信号。内存检测系统,包括测试装置、差分放大器、低通滤波器以及阈值产生器。第一记忆芯片和第二记忆芯片设置在测试装置上,差分放大器与第一记忆芯片和第二记忆芯片相连接,低通滤波器与差分放大器的输出端相连接。阈值产生器与低通滤波器的输出端相连接。
技术关键词
内存检测方法 内存检测系统 差分放大器 低通滤波器 信号 记忆单元 示波器 输出端 电路板 芯片焊接 基板 电平 输入端 命令 时钟 周期 指令
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