一种芯片化同步相量测量方法

本发明公开了一种芯片化同步相量测量方法，属于相量测量技术领域，包括以下步骤：步骤1、采集目标芯片的电力信号，根据电力信号的不同情况，包括静态偏移和动态调制，将采集到电力信号从频域角度出发，分解为若干个单一频率的信号的叠加；步骤2、设计非线性FIR滤波器；步骤3，将步骤1分解的信号输入步骤2设计好的非线性FIR滤波器对芯片的信号进行提取测量。本发明提出的一种芯片化同步相量测量方法，通过设计的非线性FIR滤波器提取通带中的基波信号正频分量，同时滤除阻带中的各干扰信号，更加精准的对芯片的信号进行提取测量。